圓良股份有限公司

圓良股份有限公司的商業公司登記資料
統一編號05135055
登記地址臺北市中山區復興北路166號11樓 || 地圖
縣市鄉里臺北市 中山區 復興北路
登記機關臺北市政府
設立日期1983-06-30
變更日期1984-04-27
資本額總額10,000,000元
實收資本額10,000,000元
負責人或代表人王勝泰
公司狀態核准設立
登記種類公司登記

圓良股份有限公司的簡介

圓良股份有限公司位於臺北市中山區,營業登記地址:臺北市中山區復興北路166號11樓,圓良股份有限公司的統一編號:05135055,圓良股份有限公司的負責人將此店家登記為公司登記,資本額:10,000,000元,成立時間於1983-06-30登記設立,商業司營業登記狀態:核准設立。

圓良股份有限公司經濟部商業司登記所營事業項目

1.一般進出口貿易業務及其有關同業間對外之保證。,2.國內外廠商有關產品經銷報價及投標業務(期貨除外)。,3.各種汽車及其零件買賣業務。,4.前項有關事業之經營及投資。

圓良股份有限公司之董監事資料集

[1] 圓良股份有限公司董監事資料集
統一編號05135055
公司名稱圓良股份有限公司
職稱監察人
姓名林明豐
所代表法人(空)
持有股份數1500
統一編號: 05135055
公司名稱: 圓良股份有限公司
職稱: 監察人
姓名: 林明豐
所代表法人: (空)
持有股份數: 1500

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代表法人 (法人董監事) 圓良股份有限公司 [ 董監事資料集 ] - 政府開放資料

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林明豐

職稱: 監察人 | 持有股份數: 1500 | 所代表法人: | 圓良股份有限公司 | 統一編號: 05135055

林明豐

職稱: 監察人 | 持有股份數: 1500 | 所代表法人: | 圓良股份有限公司 | 統一編號: 05135055

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名稱 圓良 - 政府開放資料

(以下顯示 6 筆) (或要: 所有 圓良)

應用自組性演算法建構具不同缺陷點群聚圖案之晶圓良率預測模型

作者: 李易洋 | 指導教授: 唐麗英 洪瑞雲 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 102 | 論文名稱(外文): Constructing Yield Models for Various Defect Patterns using GMDH | 系所名稱: 工業工程與管理系所 | 學校名稱: 國立交通大學

@ 國家圖書館臺灣博碩士論文知識加值系統

應用全自動虛擬量測機制建構晶圓良率推估系統

作者: 許家瑋 | 指導教授: 鄭芳田 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 103 | 論文名稱(外文): Applying the AVM Scheme to Construct a Wafer Yield Prediction System | 系所名稱: 製造資訊與系統研究所 | 學校名稱: 國立成功大學

@ 國家圖書館臺灣博碩士論文知識加值系統

運用品管手法與持續改善以提升封裝作業晶圓良率

作者: 鍾偉竣 | 指導教授: 王木俊 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 104 | 論文名稱(外文): Using QM Metrology and Continuous Improvement to Promote the Wafer-level Package Yield | 系所名稱: 產業研發碩士專班 | 學校名稱: 明新科技大學

@ 國家圖書館臺灣博碩士論文知識加值系統

以類神經網路建構半導體晶圓良率學習模型

作者: 王耀磊 | 指導教授: 陳亭志 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 105 | 論文名稱(外文): Modelling the Yield Learning Process of a Semiconductor Product with an ANN | 系所名稱: 工業工程與系統管理學系 | 學校名稱: 逢甲大學

@ 國家圖書館臺灣博碩士論文知識加值系統

以卜瓦松及負二項分佈評估半導體磊晶製程之晶圓良率

作者: 劉洛維 | 指導教授: 潘忠煜 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 108 | 論文名稱(外文): Evaluate Wafer Yields in Semiconductor Epitaxial Processes Using Poisson and Negative Binomial Distr... | 系所名稱: 工業工程與經營資訊學系 | 學校名稱: 東海大學

@ 國家圖書館臺灣博碩士論文知識加值系統

應用極限梯度提升演算法建構晶圓良率預測模型

作者: 柯東寧 | 指導教授: 唐麗英 林義貴 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 108 | 論文名稱(外文): Using XGBoost Algorithm to Construct Yield Models for Wafers | 系所名稱: 工業工程與管理系所 | 學校名稱: 國立交通大學

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應用自組性演算法建構具不同缺陷點群聚圖案之晶圓良率預測模型

作者: 李易洋 | 指導教授: 唐麗英 洪瑞雲 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 102 | 論文名稱(外文): Constructing Yield Models for Various Defect Patterns using GMDH | 系所名稱: 工業工程與管理系所 | 學校名稱: 國立交通大學

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應用全自動虛擬量測機制建構晶圓良率推估系統

作者: 許家瑋 | 指導教授: 鄭芳田 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 103 | 論文名稱(外文): Applying the AVM Scheme to Construct a Wafer Yield Prediction System | 系所名稱: 製造資訊與系統研究所 | 學校名稱: 國立成功大學

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運用品管手法與持續改善以提升封裝作業晶圓良率

作者: 鍾偉竣 | 指導教授: 王木俊 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 104 | 論文名稱(外文): Using QM Metrology and Continuous Improvement to Promote the Wafer-level Package Yield | 系所名稱: 產業研發碩士專班 | 學校名稱: 明新科技大學

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以類神經網路建構半導體晶圓良率學習模型

作者: 王耀磊 | 指導教授: 陳亭志 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 105 | 論文名稱(外文): Modelling the Yield Learning Process of a Semiconductor Product with an ANN | 系所名稱: 工業工程與系統管理學系 | 學校名稱: 逢甲大學

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以卜瓦松及負二項分佈評估半導體磊晶製程之晶圓良率

作者: 劉洛維 | 指導教授: 潘忠煜 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 108 | 論文名稱(外文): Evaluate Wafer Yields in Semiconductor Epitaxial Processes Using Poisson and Negative Binomial Distr... | 系所名稱: 工業工程與經營資訊學系 | 學校名稱: 東海大學

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應用極限梯度提升演算法建構晶圓良率預測模型

作者: 柯東寧 | 指導教授: 唐麗英 林義貴 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 108 | 論文名稱(外文): Using XGBoost Algorithm to Construct Yield Models for Wafers | 系所名稱: 工業工程與管理系所 | 學校名稱: 國立交通大學

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地址 臺北市中山區復興北路166號11樓 - 政府開放資料

(以下顯示 2 筆) (或要: 所有 臺北市中山區復興北路166號11樓)

北斗音響股份有限公司

統一編號: 30934942 | 電話號碼: 02-27150888 | 臺北市中山區復興北路166號11樓

@ 出進口廠商登記資料

綠州股份有限公司

統一編號: 20815762 | 電話號碼: 02-27150888 | 臺北市中山區復興北路166號11樓

@ 出進口廠商登記資料

北斗音響股份有限公司

統一編號: 30934942 | 電話號碼: 02-27150888 | 臺北市中山區復興北路166號11樓

@ 出進口廠商登記資料

綠州股份有限公司

統一編號: 20815762 | 電話號碼: 02-27150888 | 臺北市中山區復興北路166號11樓

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圓良股份有限公司的地圖

圓良股份有限公司的地址位於

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統一編號: 05082326 | 狀態: 核准設立
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